Sanko-Denshi(三光電機)是一家知的名的日本公司，專注于生產各種精密測量儀器，其中包括膜厚計。Sanko-Denshi的膜厚計SWT-NEO是一款用于測量薄膜厚度的高精度儀器，廣泛應用于電子、半導體、光學、材料科學等領域。以下是關于Sanko-Denshi膜厚計SWT-NEO的詳細介紹：
一、產品概述
品牌：Sanko-Denshi(三光電機)
型號：SWT-NEO
類型：光學膜厚測量儀
用途：用于測量各種薄膜的厚度，包括透明薄膜、金屬薄膜、半導體薄膜等。
二、工作原理
光學干涉法：SWT-NEO采用光學干涉原理進行膜厚測量。通過發射一束激光到薄膜表面，反射光和透射光之間會發生干涉現象。通過分析干涉條紋的變化，可以精確計算出薄膜的厚度。
高精度測量：該方法具有高精度和高分辨率，能夠測量納米級厚度的薄膜。
三、功能特點
高精度測量：能夠測量納米級厚度的薄膜，測量精度可達亞納米級別。
非接觸式測量：采用光學測量方法，無需接觸樣品，避免對樣品造成損傷。
多種測量模式：支持多種測量模式，包括單點測量、多點測量和掃描測量。
實時數據分析：儀器內置數據分析軟件，能夠實時顯示測量結果，并提供多種數據處理功能。
多種測量范圍：適用于不同厚度范圍的薄膜測量，從納米級到微米級。
用戶友好界面：配備大屏幕液晶顯示屏，操作界面直觀易用。
數據存儲與輸出：可以存儲大量測量數據，并通過USB接口將數據傳輸到計算機進行進一步分析。
多種語言支持：支持多種語言顯示，包括英語、日語、中文等。
四、技術規格
測量范圍：納米級至微米級(具體范圍取決于薄膜材料和測量條件)。
測量精度：亞納米級別。
測量速度：快速測量，適合高通量檢測。
光源：激光光源，波長可根據測量需求選擇。
測量模式：單點測量、多點測量、掃描測量。
數據存儲：可存儲大量測量數據。
數據輸出：USB接口，支持數據傳輸到計算機。
電源：交流電源適配器。
尺寸：緊湊型設計，便于實驗室和現場使用。
重量：輕便，便于攜帶。
五、應用領域
半導體行業：用于測量半導體薄膜的厚度，如硅片上的氧化層、金屬層等。
電子行業：用于測量電子元件上的薄膜厚度，如電容、電阻等。
光學行業：用于測量光學薄膜的厚度，如反射膜、增透膜等。
材料科學：用于研究新型薄膜材料的厚度和性能。
科研領域：用于實驗室研究和開發中的薄膜厚度測量。
六、操作步驟
準備樣品：將待測樣品放置在測量平臺上，確保樣品表面平整。
開機：連接電源并打開儀器，進行自檢和初始化。
設置參數：根據樣品的性質和測量需求，設置測量模式、光源波長等參數。
開始測量：將激光對準樣品表面，按下測量鍵，儀器自動進行測量。
讀取結果：測量完成后，儀器會顯示薄膜的厚度和相關數據。
數據存儲與輸出：將測量結果存儲到儀器中，或通過USB接口傳輸到計算機進行進一步分析。
七、優勢
高精度：采用光學干涉法，測量精度高，重復性好。
非接觸式測量：無需接觸樣品，避免對樣品造成損傷。
多功能：支持多種測量模式和數據處理功能，滿足不同用戶的需求。
便攜性：體積小、重量輕，便于攜帶和現場使用。
操作簡便：界面友好，操作簡單，易于上手。
實時數據分析：內置數據分析軟件，能夠實時顯示測量結果并提供多種數據處理功能。
八、附件
標準配件：主機、測量平臺、電源適配器、USB數據線、使用說明書等。
可選配件：專用軟件、校準片等。
九、維護與保養
清潔：定期清潔光學鏡頭和測量平臺，避免灰塵和污漬影響測量結果。
校準：定期使用標準校準片進行校準，確保儀器測量準確。
存儲：存放于干燥、清潔的環境中，避免高溫、潮濕和強磁場。
Sanko-Denshi膜厚計SWT-NEO以其高精度、非接觸式測量和多功能性，成為薄膜厚度測量的理想工具，廣泛應用于半導體、電子、光學和材料科學等領域。
更新時間：2025-03-19 
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